三星电子在率先实现第六代高带宽内存(HBM4)量产后,如今在第七代产品 HBM4E 以及下一代 DRAM 的研发上也取得了显著进展。三星电子首席技术官(CTO)兼半导体研发中心社长 Song Jai Hyuk 在近日的一场内部高管简报会上表示,HBM4E 的可靠性测试良率(合格品率)已提升至 70% 以上;Song Jai Hyuk 在 6 月 30 日举行的设备解决方案(DS)部门内部高管简报会上透露:“HBM4E 的可靠性测试良率已提升至 70% 以上。
消息称三星 HBM4E 良率突破 70%,第七代 AI 内存开发进入稳定阶段
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